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J-GLOBAL ID：200902001871532387   Reference number：92A0293075

Degradation of a-Si diodes.

a-Siダイオードの電流劣化:その温度依存性
Author (1)：
YANAGISAWA TAKESHI

About YANAGISAWA TAKESHI

(電総研)

About 電総研


Material：
電子情報通信学会大会講演論文集  (電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集)

About 電子情報通信学会大会講演論文集


Volume： 1992  Issue： Shunki Pt 5  Page： 5.130  Publication year： Mar. 1992 
JST Material Number： G0508A  ISSN： 1349-1369  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)
Thesaurus term：
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*temperature dependence

About temperature dependence

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JST classification (1)：
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Category name(code) classified by JST.
Diodes 
(NC03050R)

About Diodes

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Si

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ダイオード

About ダイオード

, 
温度依存性

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