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J-GLOBAL ID：200902001882492280   Reference number：89A0060253

3.1 GeV-xenon ion latent tracks in Bi₂Fe₄O₉: Moessbauer and electron microscopy studies.

Bi₂Fe₄O₉中の3.1GeV-キセノンイオンの潜跡 Moessbauer法と電子顕微鏡による研究

Author (4)： GROULT D (ISMRA, Caen, FRA) ,  HERVIEU M (ISMRA, Caen, FRA) ,  NGUYEN N (ISMRA, Caen, FRA) ,  RAVEAU B (ISMRA, Caen, FRA)
Material： Journal of Solid State Chemistry  (J Solid State Chem)
Volume： 76  Issue： 2  Page： 248-259  Publication year： Oct. 1988 
JST Material Number： H0505A  ISSN： 0022-4596  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Netherlands (NLD)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： bismuth compound ,...

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JST classification (2)： Bases,metal oxides  (CD01030Z) ,  Radiation physics in general  (BK16010L)

Terms in the title (5)： キセノン ,  イオン ,  跡 ,  電子顕微鏡 ,  研究