Art

J-GLOBAL ID：200902001953771983   Reference number：92A0662974

Probing the anion effects on the charge density waves in 1T-TaS₂ by scanning tunneling microscopy.

走査型トンネル顕微鏡による1T-TaS₂の電荷密度波に対する陰イオン効果の探査

Author (7)： MANIVANNAN A (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  NAGAHARA L A (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  TSUKADA M (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  HASHIMOTO K (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  FUJISHIMA A (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  BERGER H (EPFL, Lausanne, CHE) ,  LEVY F (EPFL, Lausanne, CHE)
Material： Surface Science  (Surface Science Letters)
Volume： 274  Issue： 2  Page： L554-L558  Publication year： Aug. 01, 1992 
JST Material Number： C0129B  ISSN： 0039-6028  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： Netherlands (NLD)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： tantalum compound ,...
Semi thesaurus term： TaS₂

   To see more with JDream III (charged).   {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=92A0662974&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=C0129B") }}

JST classification (2)： Surface structure of solids in general  (BK15010E) ,  Electronic structure of surfaces  (BM02080J)

Terms in the title (5)： 走査型トンネル顕微鏡 ,  TaS2 ,  電荷密度波 ,  陰イオン ,  探査