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J-GLOBAL ID：200902001971898974   Reference number：90A0127364

Prototype testing simplified by scannable buffers and latches.

スキャン可能バッファとラッチによって簡単化したプロトタイプ試験法

Author (3)： HALLIDAY A (Texas Instruments Inc., Texas) ,  YOUNG G (Texas Instruments Inc., Texas) ,  CROUCH A (Texas Instruments Inc., Texas)
Material： Proceedings. International Test Conference  (Proc Int Test Conf)
Volume： 1989  Page： 174-181  Publication year： 1989 
JST Material Number： E0211B  ISSN： 1089-3539  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： fault detection ,...
Semi thesaurus term： スキャンパス法

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JST classification (2)： Measurement,testing and reliability of solid-state devices  (NC03040G) ,  Printed circuits  (NA05040O)

Terms in the title (4)： スキャン ,  バッファ ,  プロトタイプ ,  試験法