Art

J-GLOBAL ID：200902001981554599   Reference number：88A0458369

Analysis of detection probability of semiconductor random access memories in applying random patterns.

ランダムパターンを用いた半導体メモリテストの故障検出率の解析

Author (3)： TAMAMOTO HIDEO (秋田大 鉱山) ,  OTAKA TATSUMI (秋田大 鉱山) ,  NARITA YUICHI (秋田大 鉱山)
Material： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
Volume： 88  Issue： 42  Page： 33-40(FTS88-6)  Publication year： May. 26, 1988 
JST Material Number： S0532B  ISSN： 0913-5685  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： integrated circuit memory ,...

   To see more with JDream III (charged).   {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=88A0458369&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=S0532B") }}

JST classification (2)： Measurement,testing and reliability of solid-state devices  (NC03040G) ,  Semiconductor integrated circuit  (NC03162T)

Terms in the title (4)： 半導体メモリ ,  テスト ,  故障検出 ,  解析