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J-GLOBAL ID：200902001990594013   Reference number：89A0318917

Temperature and thickness dependence of the resistivity of thin polycrystalline aluminium, cobalt, nickel, palladium, silver and gold films.

多結晶アルミニウム,コバルト,ニッケル,パラジウム,銀および金膜の抵抗率の温度および膜厚依存性

Author (1)： DE VRIES J W C (Philips Research Lab., Eindhoven, NLD)
Material： Thin Solid Films
Volume： 167  Page： 25-32  Publication year： Dec. 15, 1988 
JST Material Number： B0899A  ISSN： 0040-6090  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Netherlands (NLD)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： aluminum ,...

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JST classification (1)： Electronic conduction in crystalline metals  (BM03033M)

Terms in the title (9)： 多結晶 ,  アルミニウム ,  コバルト ,  ニッケル ,  パラジウム ,  銀 ,  金膜 ,  抵抗率 ,  膜厚依存性