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J-GLOBAL ID：200902002067939705   Reference number：90A0177718

Structural study of Ag overlayers deposited on a Si(111) substrate by impact-collision ion-scattering-spectroscopy with time-of-flight detection.

飛行時間法を用いたインパクト衝突イオン散乱分光(ICISS)によるSi(111)基板上のAg蒸着層の構造研究

Author (7)： SUMITOMO K (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  TANAKA K (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  IZAWA Y (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  KATAYAMA I (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  SHOJI F (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  OURA K (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  HANAWA T (Osaka Univ., Osaka, JPN)
Material： Applied Surface Science  (Appl Surf Sci)
Volume： 41/42  Page： 112-117  Publication year： Nov. 1989 
JST Material Number： B0707B  ISSN： 0169-4332  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Netherlands (NLD)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： silicon ,...
Semi thesaurus term： ICISS

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JST classification (2)： Surface structure of semiconductors  (BK15030A) ,  半導体-金属接触【’81~’92】  (BM03073E)

Terms in the title (8)： 飛行時間法 ,  インパクト ,  衝突 ,  イオン散乱分光 ,  Si ,  Ag ,  蒸着 ,  研究