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J-GLOBAL ID：200902002068004475   Reference number：88A0245319

Micro-characterization. II. Surfase extended X-ray absorption fine structure.

マイクロキャラクタリゼーション II 表面EXAFS

Author (1)： HASHIZUME TOMIHIRO (東大 物性研)
Material： 応用物理  (JSAP International)
Volume： 57  Issue： 2  Page： 257-258  Publication year： Feb. 1988 
JST Material Number： F0252A  ISSN： 0369-8009  CODEN： OYBSA  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： EXAFS ,...
Semi thesaurus term： atom vibration

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JST classification (3)： Other methods of structure determination  (BK01070L) ,  Surface structure of solids in general  (BK15010E) ,  Other phsical analysis  (CC03014E)

Reference (14)：

• 1) P. A. Lee: Phys. Rev, B 13 (1976) 5261.
• 2) U. Landman and D. L. Adams: Proc. Nat. Acad. Sci. U. S. A. 73 (1976) 2550.
• 3) P. H. Citrin: Bull. Am. Phys. Soc. 22 (1977) 359.
• 4) P. H. Citrin, P. Eisenberger and R. C. Hewitt: Phys. Rev. Lett. 41 (1978) 309.
• 5) 菊田惺志:応用物理 57 (1988) 同特集.

Terms in the title (2)： キャラクタリゼーション ,  EXAFS