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J-GLOBAL ID：200902002085834040   Reference number：92A0605220

Field Ion-Scanning Tunneling Microscopy Study of Sulfur/Chlorine Adsorption on the Cu(111) 1×1 Surface.

Cu(111)1×1表面への硫黄/塩素吸着の電界イオン-走査型トンネル顕微鏡(FI-STM)による研究

Author (7)： MOTAI K (Tohoku Univ., Sendai) ,  HASHIZUME T (Tohoku Univ., Sendai) ,  JEON D-R (Tohoku Univ., Sendai) ,  LU H (Tohoku Univ., Sendai) ,  TANAKA K-I (Univ. Tokyo, Tokyo) ,  PICKERING H W (The Pennsylvania State Univ., PA, USA) ,  SAKURAI T (Tohoku Univ., Sendai)
Material： Japanese Journal of Applied Physics. Part 2. Letters  (Japanese Journal of Applied Physics. Part 2. Letters & Express Letters)
Volume： 31  Issue： 7A  Page： L874-L876  Publication year： Jul. 01, 1992 
JST Material Number： F0599B  ISSN： 0021-4922  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： copper ,...
Semi thesaurus term： FIM【顕微鏡】 ,...

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JST classification (1)： Study of adsorption by physical means  (CB12043P)

Terms in the title (9)： Cu ,  硫黄 ,  塩素 ,  吸着 ,  電界 ,  イオン ,  走査型トンネル顕微鏡 ,  STM ,  研究