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J-GLOBAL ID：200902002090838312   Reference number：89A0592538

Polymer concentration profile near a liquid-solid interface: Evanescent wave ellipsometry study.

液体-固体界面での重合体濃度分布 消波偏光解析法による研究

Author (6)： KIM M W (Exxon research and Engineering Co., New Jersey) ,  PEIFFER D G (Exxon research and Engineering Co., New Jersey) ,  CHEN W (Univ. California, California) ,  HSIUNG H (Univ. California, California) ,  RASING T (Univ. California, California) ,  SHEN Y R (Univ. California, California)
Material： Macromolecules
Volume： 22  Issue： 6  Page： 2682-2685  Publication year： Jun. 1989 
JST Material Number： B0952A  ISSN： 0024-9297  CODEN： MAMOBX  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： ellipsometry ,...

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JST classification (1)： Stereochemistry of polymers  (CG02031G)

Terms in the title (6)： 固体界面 ,  重合体濃度 ,  分布 ,  消波 ,  偏光解析法 ,  研究