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J-GLOBAL ID：200902015474755826   Reference number：91A0674707

Industrial Application of Surface and Interface Analysis. Cross-sectional View is Useful (TEM).

特集 『表面,界面分析の工業的応用』 断面を見るという手もある(TEMの利用)

Author (2)： ISHIDA YOICHI (東大 生産技研) ,  ICHINOSE HIDEKI (東大 生産技研)
Material： 日本金属学会会報  (Bulletin of the Japan Institute of Metals)
Volume： 30  Issue： 7  Page： 617-624  Publication year： Jul. 1991 
JST Material Number： F0163A  ISSN： 0021-4426  CODEN： NKZKAU  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： electron microscopy ,...

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JST classification (2)： Physical analysis of elements in inorganic substances  (CC03022H) ,  Microscopy determination of structures  (BK01040E)

Reference (19)：

• (1) 市野瀬英喜: 電子顕微鏡大学テキスト, 日本電子顕微鏡学会,(1991), p.74.
• (2) 石田洋一, 王建義, 須賀唯知: 電子顕微鏡, 23, No.3 (1990), 215.
• (3) Y. Ishida, J. Wang and T. Suga: ISIJ International, 30 (1990), 1041.
• (4) 田中孝治: 博士論文 (東京大学工学部1991年3月).
• (5) R. Alani, J. S. Jones and P. R. Swann: in Workshop on Specimen Preparation for Transmission Electron Microscopy of Materials II, Ed. by R. M. Anderson, MRS Symp. Proc., 119 (1990), p.85.

Terms in the title (5)： 界面分析 ,  工業 ,  応用 ,  手 ,  TEM