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J-GLOBAL ID：200902015479993350   Reference number：86A0298424

RHEED studies of heterojunction and quantum well formation during MBE growth - From multiple scattering to band offsets.

MBE(分子ビームエピタクシー)成長中のヘテロ接合および量子井戸形成のRHEED(反射高速電子回折)による研究 多重散乱からバンドオフセットまで

Author (7)： JOYCE B A (Philips, UK) ,  DOBSON P J (Philips, UK) ,  NEAVE J H (Philips, UK) ,  WOODBRIDGE K (Philips, UK) ,  ZHANG J (Imperial Coll. Science and Technology, London) ,  LARSEN P K (Philips Nederlandse Bedrijven BV, The Netherlands) ,  BOLGER B (Philips Nederlandse Bedrijven BV, The Netherlands)
Material： Surface Science  (Surface Science Letters)
Volume： 168  Issue： 1/3  Page： 423-438  Publication year： Mar. 1986 
JST Material Number： C0129B  ISSN： 0039-6028  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Netherlands (NLD)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： heterojunction ,...

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JST classification (1)： 半導体-半導体接触【’81~’92】  (BM03072N)

Terms in the title (10)： MBE ,  分子ビームエピタクシー ,  成長 ,  ヘテロ接合 ,  量子井戸 ,  RHEED ,  反射高速電子回折 ,  研究 ,  多重散乱 ,  バンドオフセット