Art

J-GLOBAL ID：200902015495696382   Reference number：90A0018892

The need for defect monitoring.

Author (3)： SILK M G (Harwell Lab., Oxfordshire, UK) ,  WHAPHAM A D (Harwell Lab., Oxfordshire, UK) ,  HOBBS C P (Harwell Lab., Oxfordshire, UK)
Material： Non-Destructive Testing, Vol.2  (Non-Destr Test Vol 2)
Page： 1731-1736  Publication year： 1989 
JST Material Number： K19890420  ISBN： 0-444-87450-X  Document type： Proceedings
Country of issue： Netherlands (NLD)  Language： ENGLISH (EN)