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J-GLOBAL ID：200902015529957970   Reference number：85A0330104

Effect of Cu deposition on structural and electronic properties of cleaved Si(111) surfaces.

へき開Si(111)表面の構造と電子状態に対するCu析出効果

Author (5)： TALEB-IBRAHIMI A (Univ. Pierre et Marie Curie, Paris) ,  MERCIER V (Univ. Pierre et Marie Curie, Paris) ,  SEBENNE C A (Univ. Pierre et Marie Curie, Paris) ,  BOLMONT D (Univ. Pierre et Marie Curie, Paris) ,  CHEN P (Univ. Pierre et Marie Curie, Paris)
Material： Surface Science  (Surface Science Letters)
Volume： 152/153  Issue： 2  Page： 1228-1238  Publication year： Apr. 1985 
JST Material Number： C0129B  ISSN： 0039-6028  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Netherlands (NLD)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： silicon ,...

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JST classification (2)： Solid-solid interface  (CB12060M) ,  Surface structure of semiconductors  (BK15030A)

Terms in the title (5)： へき開 ,  Si ,  電子状態 ,  Cu ,  析出