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J-GLOBAL ID：200902015580902013   Reference number：91A0033808

Characterization of InAs/GaAs heterostructure by Raman spectroscopy.

ラマン分光法によるInAs/GaAs界面の評価

Author (6)： MORIGUCHI YUKIHISA (名古屋工大) ,  ICHIMURA MASAYA (名古屋工大) ,  USAMI AKIRA (名古屋工大) ,  WADA TAKAO (名古屋工大) ,  TABUCHI MASAO (京大) ,  SASAKI AKIO (京大)
Material： 応用物理学会学術講演会講演予稿集  (Extended Abstracts. Annual Meeting. Japan Society of Applied Physics)
Volume： 51st  Issue： 3  Page： 1098  Publication year： Sep. 1990 
JST Material Number： Y0055A  Document type： Proceedings
Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Terms in the title (5)： ラマン分光法 ,  InAs ,  GaAs ,  界面 ,  評価