Art

J-GLOBAL ID：200902015604602962   Reference number：90A0459697

Characterization of small particles by high resolution electron microscope.

特集「エアロゾルにおける可視化と画像処理」 電子顕微鏡による微粒子の測定

Author (1)： IIJIMA SUMIO (日本電気 基礎研)
Material： エアロゾル研究  (Journal of Aerosol Research)
Volume： 4  Issue： 3  Page： 168-174  Publication year： Sep. 1989 
JST Material Number： L0641A  ISSN： 0912-2834  CODEN： EAKEEA  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： fine particle ,...

   To see more with JDream III (charged).   {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=90A0459697&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=L0641A") }}

JST classification (1)： Aerosol  (CB11030Y)

Reference (17)：

• 1) 上田良二 : エアロゾル研究, 1, 13-21 (1986)
• 2) 固体物理別冊特集号, “超微粒子” アグネ技術センター, (1984)
• 3) Kusunoki, M. and Ichihashi, T.: Jpn. J. Appl. Phys. 25, 1219 (1986)
• 4) Saito, Y. Chen, H. C. and Mihama, K.: Appl. Phys. Lett., 48, 581 (1986)
• 5) Kroto, H. W., Heath, J. R., O'Brien, S. C., Curl, R. F. and Smallely, R. E.: Nature 315, 162 (1985)

Terms in the title (5)： エアロゾル ,  可視化 ,  画像処理 ,  電子顕微鏡 ,  微粒子