Art

J-GLOBAL ID：200902015654391423   Reference number：85A0292928

X-ray diffraction measurement of residual stress in P.V.D. silver coatings on metal alloy substrates.

合金基板上のP.V.D.銀皮膜層中の残留応力のX線回折による測定

Author (2)： SHACKELFORD J F (Univ. California) ,  STROUD R D (Univ. California)
Material： International Advances in Nondestructive Testing  (Int Adv Nondestr Test)
Volume： 10  Page： 333-345  Publication year： 1984 
JST Material Number： B0283C  ISSN： 0140-072X  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： vacuum deposition ,...

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JST classification (1)： Metallic materials  (HC02020X)

Terms in the title (5)： 金基板 ,  銀 ,  皮膜層 ,  残留応力 ,  X線回折