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J-GLOBAL ID：200902015722322419   Reference number：84A0448177

Microanalysis of bulk samples by laser-induced ion mass analysis.

レーザ励起イオン質量分析によるバルク試料のマイクロアナリシス

Author (5)： EVANS C A JR (Charles Evans & Assoc., CA) ,  GRIFFITHS B W (Cambridge Mass Spectrometry Ltd., England) ,  DINGLE T (Cambridge Mass Spectrometry Ltd., England) ,  SOUTHAN M J (Univ. Cambridge) ,  NINHAM A J (Univ. Cambridge)
Material： Microbeam Analysis  (Proceedings. Annual Conference. Microbeam Analysis Society)
Volume： 18th  Page： 101-105  Publication year： 1983 
JST Material Number： E0776B  ISSN： 0278-1727  Document type： Proceedings
Article type： 解説  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： mass spectrometry ,...

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JST classification (1)： Mass spectrometry  (CC03013N)

Terms in the title (6)： レーザ励起 ,  イオン ,  質量分析 ,  バルク ,  試料 ,  マイクロアナリシス