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J-GLOBAL ID：200902023104338625   Reference number：88A0411504

X-ray and Raman scattering measurements in finite, pseudomorphically strained, Fibonacci lattices.

有限,不正形に歪んだFibonacci格子におけるX線散乱とRaman散乱の測定

Author (3)： MACRANDER A T (AT&T Bell Lab., NJ, USA) ,  SCHWARTZ G P (AT&T Bell Lab., NJ, USA) ,  BEVK J (AT&T Bell Lab., NJ, USA)
Material： Physical Review. B. Condensed Matter and Materials Physics  (Physical Review. B. Condensed Matter)
Volume： 37  Issue： 14  Page： 8459-8461  Publication year： May. 15, 1988 
JST Material Number： D0746A  ISSN： 1098-0121  CODEN： PRBMDO  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： X-ray scattering ,...

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JST classification (2)： 半導体-半導体接触【’81~’92】  (BM03072N) ,  Infrared spectra,Raman scattering and Raman spectra of inorganic compounds  (BM08063C)

Terms in the title (3)： Fibonacci格子 ,  X線散乱 ,  Raman散乱