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J-GLOBAL ID：200902023117151397   Reference number：85A0097697

X-ray photoelectron and Auger-electron forward scattering: A new tool for studying epitaxial growth and core-level binding-energy shifts.

X線光電子およびAuger電子の前方散乱 エピタクシー成長と内殻準位の結合エネルギーシフトを調べる新しい道具

Author (1)： EGELHOFF W F JR (National Bureau of Standards, Washington, D.C.)
Material： Physical Review. B. Condensed Matter and Materials Physics  (Physical Review. B. Condensed Matter)
Volume： 30  Issue： 2  Page： 1052-1055  Publication year： Jul. 15, 1984 
JST Material Number： D0746A  ISSN： 1098-0121  CODEN： PRBMDO  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： X-ray photoelectron spectrum ,...
Semi thesaurus term： inverse segregation

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JST classification (2)： Electron spectroscopy  (BM09060K) ,  Thin films in general  (BK14010X)

Terms in the title (8)： X線 ,  光電子 ,  Auger電子 ,  前方散乱 ,  エピタクシー成長 ,  内殻準位 ,  エネルギーシフト ,  道具