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J-GLOBAL ID：200902023337519867   Reference number：91A0125378

The MMP method applied to EMC.

Author (1)： KIENER S (Swiss Polytechnical Inst. Technology, Zuerich, CHE)
Material： 1989 International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Vol.1  (EMC '89 Nagoya, Vol.1)
Page： 338-342  Publication year： 1989 
JST Material Number： K19901004  Document type： Proceedings
Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Terms in the title (2)： MMP ,  EMC