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J-GLOBAL ID：200902051198679670   Reference number：92A0230198

A Test Generation for Observable Sequential Circuits Using Approximate Differentiable Function.

関数近似を利用した全可観測な順序回路のテスト生成

Author (4)： MAEKAWA HIDETSUGU (松下電器産業 中研 電子機器基礎研) ,  KAYASHIMA KAZUHIRO (松下電器産業 中研 電子機器基礎研) ,  SHIMEKI YASUHARU (松下電器産業 中研 電子機器基礎研) ,  SHIN SEIICHI (筑波大 電子・情報工学系)
Material： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
Volume： 91  Issue： 474(FTS91 61-65)  Page： 7-12  Publication year： Feb. 20, 1992 
JST Material Number： S0532B  ISSN： 0913-5685  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： sequental circuit ,...

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JST classification (1)： Measurement,testing and reliability of solid-state devices  (NC03040G)

Terms in the title (4)： 関数近似 ,  観測 ,  順序回路 ,  テスト生成