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J-GLOBAL ID：200902051321624966   Reference number：95A0897390

An X-Ray Diffraction Method for Quantitative Adhesion Measurements of Thin-Hard Film on Metallic Substrates.

金属基板上の硬質薄膜の付着力の定量的測定のためのX線回折法

Author (5)： LI G (Shanghai Jiaotong Univ., Shanghai, CHN) ,  CHEN C (Shanghai Jiaotong Univ., Shanghai, CHN) ,  QI X (Shanghai Jiaotong Univ., Shanghai, CHN) ,  WANG Z (Shanghai Jiaotong Univ., Shanghai, CHN) ,  LI P (Shanghai Jiaotong Univ., Shanghai, CHN)
Material： Proceedings of the 10th International Conference on Vacuum Metallurgy, 1990, Vol.2  (Proc 10th Int Conf Vac Metall 1990 Vol 2)
Page： 203-208  Publication year： 1991 
JST Material Number： K19950508  ISBN： 7-5024-1045-7  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： China (CHN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： low carbon steel ,...
Semi thesaurus term： titanium nitride

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JST classification (3)： Metallic materials  (HC02020X) ,  Vapor plating  (WC08022K) ,  Ceramic coating to metallic materials  (YC02050V)

Terms in the title (5)： 金属基板 ,  硬質薄膜 ,  付着力 ,  定量 ,  X線回折法