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J-GLOBAL ID：200902131010170515   Reference number：93A0256466

Scanning Tunneling Microscope Atomic Force Microscope.

走査トンネル顕微鏡・原子間力顕微鏡

Author (1)： MASUDA HIROYUKI (金材技研)
Material： 材料と環境  (Corrosion Engineering of Japan)
Volume： 42  Issue： 2  Page： 99-106  Publication year： Feb. 1993 
JST Material Number： F0006A  ISSN： 0917-0480  CODEN： ZAKAEP  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： scanning tunneling microscope ,...

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JST classification (1)： Microscopy determination of structures  (BK01040E)

Reference (33)：

• 1) 大森隆, 酒巻健司, 藤島明: 防食技術, 39, 564 (1990).
• 2) G. Binnig, H. Rohrer, Ch. Gerber & E. Weibel: Phys. Rev, Lett., 50, 120 (1983).
• 3) R. J. Hamers, R. M. Tromp & J. E. Demuth: Surface Sci., 181, 346 (1987).
• 4) Ph. Avouris & R. Wolkow: Phys. Rev. B, 39, 5091 (1989).
• 5) P. Bedrossian, D. M. Chen, K. Mortensen & J. A. Golovchenko: Nature, [342] 258 (1989).

Terms in the title (2)： 走査トンネル顕微鏡 ,  原子間力顕微鏡