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J-GLOBAL ID：200902165028902280   Reference number：99A0683002

Near-Field Scanning Microwave Microscopy of Superconducting Materials and Devices.

超伝導材料と素子における近接場走査マイクロ波顕微鏡観察

Author (8)： ANLAGE S M (Univ. Maryland, MD, USA) ,  THANAWALLA A S (Univ. Maryland, MD, USA) ,  ZHURAVEL A P (B.I. Verkin Inst. Low Temperature Physics and Engineering, Acad. Sci. Ukraine, Kharkov, UKR) ,  HU W (Univ. Maryland, MD, USA) ,  VLAHACOS C P (Univ. Maryland, MD, USA) ,  STEINHAUER D E (Univ. Maryland, MD, USA) ,  DUTTA S K (Univ. Maryland, MD, USA) ,  WELLSTOOD F C (Univ. Maryland, MD, USA)
Material： Advances in Superconductivity  (Proceedings of the International Symposium on Superconductivity)
Volume： 11  Issue： Vol.2  Page： 1079-1084  Publication year： 1999 
JST Material Number： L1458A  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *superconducting material ,...
Semi thesaurus term： near field(optics)

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JST classification (1)： Superconducting materials  (BM04041W)

Terms in the title (5)： 超伝導材料 ,  近接場 ,  走査 ,  マイクロ波 ,  顕微鏡観察