Art

J-GLOBAL ID：200902165107441922   Reference number：99A0628822

Microstructure of Cu-rich CuGaSe₂ Thin Films.

CuリッチCuGaSe₂薄膜のミクロ構造

Author (6)： NADENAU V (Univ. Stuttgart, Stuttgart, DEU) ,  SCHOCK H W (Univ. Stuttgart, Stuttgart, DEU) ,  KREJCI M (Swiss Federal Inst. Technol., Zuerich, CHE) ,  HAUG F-J (Swiss Federal Inst. Technol., Zuerich, CHE) ,  TIWARI A N (Swiss Federal Inst. Technol., Zuerich, CHE) ,  ZOGG H (Swiss Federal Inst. Technol., Zuerich, CHE)
Material： Diffusion and Defect Data Part B. Solid State Phenomena  (Diffus Defect Data Part B)
Volume： 67/68  Page： 397-401  Publication year： 1999 
JST Material Number： T0583A  ISSN： 1012-0394  Document type： Article
Country of issue： Switzerland (CHE)  Language： ENGLISH (EN)

Terms in the title (3)： Cu ,  薄膜 ,  ミクロ構造