Art

J-GLOBAL ID：200902165152270209   Reference number：02A0655112

Finite Element Modeling of Indenter-Sample Contact During Force Imaging of Filled Rubber by Atomic Force Microscopy.

原子間力顕微鏡による充填ゴムの原子間力描画中の押込み子と試料との接触に対する有限要素法によるモデル化

Author (2)： DAVIS M K (Univ. Akron, Ohio) ,  EBY R K (Univ. Akron, Ohio)
Material： Rubber Chemistry and Technology  (Rubber Chem Technol)
Volume： 75  Issue： 1  Page： 19-28  Publication year： Mar. 2002 
JST Material Number： E0020A  ISSN： 0035-9475  CODEN： RCTEA  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *atomic force microscope ,...
Semi thesaurus term： silica

   To see more with JDream III (charged).   {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=02A0655112&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=E0020A") }}

JST classification (2)： Surface structure of solids in general  (BK15010E) ,  Rubbers  (YH07020M)

Terms in the title (8)： 原子間力顕微鏡 ,  ゴム ,  原子間力 ,  描画 ,  押込 ,  試料 ,  有限要素法 ,  モデル化