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J-GLOBAL ID：200902212410427027   Reference number：09A0934724

X-ray diffuse scattering effects from Coulomb-type defects in multilayered structures

多層構造中のCoulomb型欠陥からのX線散漫散乱影響

Author (5)： OLIKHOVSKII S. I. (G.V. Kurdyumov Inst. Metal Physics, NASU, Kyiv, UKR) ,  MOLODKIN V. B. (G.V. Kurdyumov Inst. Metal Physics, NASU, Kyiv, UKR) ,  SKAKUNOVA E. S. (G.V. Kurdyumov Inst. Metal Physics, NASU, Kyiv, UKR) ,  KISLOVSKII E. N. (G.V. Kurdyumov Inst. Metal Physics, NASU, Kyiv, UKR) ,  FODCHUK I. M. (G.V. Kurdyumov Inst. Metal Physics, NASU, Kyiv, UKR)
Material： Physica Status Solidi. A. Applications and Materials Science  (Physica Status Solidi. A.)
Volume： 206  Issue： 8  Page： 1790-1794  Publication year： Aug. 2009 
JST Material Number： D0774A  ISSN： 1862-6300  CODEN： PSSABA  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Germany, Federal Republic of (DEU)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *multistory structure ,  crystal ,  *lattice defect ,  *X-ray diffuse scattering ,  crystal structure ,  rocking curve ,  coherence ,  diffusion ,  equation ,  quantum well ,  indium compound ,  gallium compound ,  arsenide ,  nitride ,  gallium arsenide ,  thickness of strata ,  strain ,  chemical composition ,  substrate(plate) ,  dislocation loop ,  density
Semi thesaurus term： Coulomb crystal ,  サイズ ,  diffraction model

JST classification (3)： Semiconductor thin films  (BK14040E) ,  Lattice defects in semiconductors  (BK12040Q) ,  X-ray diffraction methods  (BK01020I)

Terms in the title (4)： 多層構造 ,  Coulomb ,  欠陥 ,  X線散漫散乱