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J-GLOBAL ID：200902212427136255   Reference number：08A0358078

Cysteine-Modified Polycrystalline Gold Electrode for Anodic Stripping Voltammetric Detection of As(III) without Interference of Cu(II) ion

Cu(II)イオン無干渉のAs(III)のアノーディックストリッピングボルタンメトリーに関するシステイン-修飾多結晶金電極

Author (4)： RAHMAN M.R. (Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN) ,  ISLAM M.M. (Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN) ,  OKAJIMA T. (Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN) ,  OHSAKA T. (Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN)
Material： 電気化学会大会講演要旨集
Volume： 75th  Page： 199  Publication year： Mar. 29, 2008 
JST Material Number： Y0048A  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *gold electrode ,  polycrystal ,  chemical modification ,  *anodic stripping voltammetry ,  *arsenic compound ,  *copper compound ,  trace constituent ,  detection limit ,  *quantitative analysis(analytical chemistry) ,  monomolecular layer ,  self-organizing ,  interfering ingredient ,  aliphatic amine ,  thiol ,  aliphatic carboxylic acid ,  sulfur containing amino acid ,  primary amine

JST classification (2)： Electrochemical reaction  (CB07050F) ,  Electrometric analysis of inorganic compounds  (CC05024D)

Substance index (1)： Cysteine

Terms in the title (8)： Cu ,  イオン ,  干渉 ,  アノーディックストリッピングボルタンメトリー ,  システイン ,  修飾 ,  多結晶 ,  金電極