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J-GLOBAL ID:200901092305397288   Update date: Feb. 14, 2024

Lianhua Jin

キン レンカ | Lianhua Jin
Affiliation and department:
Job title: Professor
Research field  (1): Optical engineering and photonics
Research keywords  (2): Ellipsometry microscopy, Nano crystal silicon, 3D measurement ,  Optical metrology, Imaging Ellipsometry, Nano crystal Silicon, Scattering, Polarized light, 3D measurement
Research theme for competitive and other funds  (5):
  • 2020 - 2022 Development of Mueller matrix microscope
  • 2016 - 2019 ナノSi結晶とワイドギャップ半導体の複合化プロセスの開発とデバイス提案
  • 2015 - 2018 偏光指紋による物体同定のための光学モデル化およびその応用
  • 2012 - 2015 物体の偏光指紋の構築及びその応用
  • 2009 - 2012 撮像ゆらぎエリプソメトリによる超臨界流体薄膜プロセスのマルチスケール制御
Papers (66):
  • B. Gelloz, L. Jin. Electron escape from filled band in wet porous silicon nanostructure probed by luminescence quenching dynamics. ECS Journal of Solid State Science and Technology. 2022. 11. 6. 066002
  • E. Kondoh, S. Takeuchi, L. Jin, R. Koshino, S. Hamada, H. Hiyama. Thin layer growth on cobalt surface in solutions simulating slurry chemistry for chemical mechanical polishing. JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. 2022. 61. 018004-SJ1003
  • B. Gelloz, N. Takura, S. Sakata, L. Jin. High Energy Limit of the Size-Tunable Photoluminescence of Hydrogen-Terminated Porous Silicon Nanostructures in HF. ECS Journal of Solid State Science and Technology. 2022. 11. 5. 056004
  • M. Ohtake, M. Shibuya, L. Jin. Aberration analysis of zoom lens system with freeform surface lenses using XY polynomial. Proc. of SPIE International Optical Design Conference 2021. 2021. 12078. 120781H
  • N. Takura, L. Jin, E. Kondoh, B. Gelloz. Hydrosilylation of High Porosity Porous Silicon with 1-Hexene in Supercritical CO2 Fluid. ECS Journal of Solid State Science and Technology. 2021. 10. 11. 116005-4
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MISC (2):
Patents (2):
  • 誤差補正方法及び二次元偏光解析法、並びに誤差補正装置及び二次元偏光解析装置
  • 光学特性の測定方法及び光学特性の測定装置
Lectures and oral presentations  (53):
  • Reflection and Transmission Ellipso-Microscopy
    (9th International Conference on Spectroscopic Ellipsometry (ICSE-9) 2022)
  • 反射・透過型エリプソメトリー計測における透明基板内反射影響
    (第69回応用物理学会春季学術講演会 2022)
  • 化学溶解中におけるポーラスシリコンのフォトルミネセンス特性
    (第69回応用物理学会春季学術講演会 2022)
  • Electron escape from porous silicon nanostructure probed by liquid-phase luminescence quenching dynamics
    (第69回応用物理学会春季学術講演会 2022)
  • エリプソ顕微鏡とその応用
    (第17回偏光計測研究会 2021)
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Education (1):
  • - 2001 Tokyo University of Agriculture and Technology
Professional career (6):
  • Bachelor (天津大学)
  • 学士 (天津大学)
  • Master (天津大学)
  • 修士 (天津大学)
  • PhD (Engineering) (東京農工大学)
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Work history (5):
  • 2021/09/01 - Univ. of Yamanashi Faculty of Engineering Professor
  • 2008/04/01 - Univ. of Yamanashi Faculty of Engineering Associate Professor
  • 2006/04/01 - Shibaura Institute of Techinology Part time Lecturer
  • 2004/04/01 - Seikei Univ Assistant Professor
  • 2002/04/01 - Tokyo Univ. of Agri. and Tech. Venture Business Lab. Postdoctor
Committee career (4):
  • 2021/04/01 - 2022/01/31 応用物理学会 応用物理学会 代議員
  • 2020/02/01 - 2021/03/31 応用物理学会 応用物理学会 代議員
  • 2018/04/01 - 2021/03/31 精密工学会 精密工学会誌編集委員会 委員
  • 2018/04/01 - 2020/03/31 応用物理学会 フォトニクス分科会 幹事
Awards (6):
  • 2020/09 - 山梨大学 山梨大学 令和2年度優秀教員奨励制度(特別報奨)
  • 2019/11/27 - 山梨大学 山梨大学男女共同参画学術研究優秀賞
  • 2017/10/19 - ADMETA plus ADMETA Award
  • 2017/07 - 日本光学会 日本光学会 第20回光学設計奨励賞 広範囲・高分解能・高精度イメージングエリプソメータの開発
  • 2016/05 - 山梨大学 山梨大学 平成27年度優秀教員奨励制度(研究特別奨励賞)
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Association Membership(s) (4):
The Japan Society of Applied Physics ,  SPIE ,  Society of precision engineering ,  The Optical Society of Japan
※ Researcher’s information displayed in J-GLOBAL is based on the information registered in researchmap. For details, see here.

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