Art

J-GLOBAL ID：200902076457008480   Reference number：91A0063523

Measuring surface roughness of an optical thin film with scanning tunneling microscopes.

走査型トンネル顕微鏡による光学薄膜の表面粗さ測定

Author (3)： HABIB K (Kuwait Inst. Scientific Research, Safat, KWT) ,  ELING V (Digital Instruments, Inc., California, USA) ,  WU C (Digital Instruments, Inc., California, USA)
Material： Journal of Materials Science Letters  (J Mater Sci Lett)
Volume： 9  Issue： 10  Page： 1194  Publication year： Oct. 1990 
JST Material Number： D0919B  ISSN： 0261-8028  CODEN： JMTSAS  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： surface roughness ,...
Semi thesaurus term： STM

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JST classification (2)： Microscopy determination of structures  (BK01040E) ,  Metallic thin films  (BK14030T)

Terms in the title (3)： 走査型トンネル顕微鏡 ,  光学薄膜 ,  表面粗さ