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J-GLOBAL ID：200902076505753672   Reference number：84A0006622

走査型電子顕微鏡およびエネルギー分散型X線マイクロアナライザーの応用 I 形態観察および定性分析への適用例

Author (2)：
TAKEUCHI TAKASHI

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(函館工高専)

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FUKUSHIMA JIYUN

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Material：
函館工業高等専門学校紀要  (Research Reports of National Institute of Technology, Hakodate National College)

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Issue： 17  Page： 51-59  Publication year： Mar. 15, 1983 
JST Material Number： S0946A  ISSN： 0286-5491  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)
Thesaurus term：
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scanning electron microscope

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Microscopy determination of structures 
(BK01040E)

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(CC03014E)

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走査型電子顕微鏡

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定性分析

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