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J-GLOBAL ID：201602266796138458   Reference number：16A0655250

An old satellite antenna measured on a new test facility at Eindhoven University of Technology

Eindhoven工科大学における新しい試験装置で測定した高齢衛星アンテナ【Powered by NICT】

Author (3)： van 't Klooster C.G.M. (Eindhoven University of Technology, The Netherland) ,  Tijhuis A.G. (Eindhoven University of Technology, The Netherland) ,  Smolders A.B. (Eindhoven University of Technology, The Netherland)
Material： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conf Proc)
Volume： 2016  Issue： MIKON  Page： 1-4  Publication year： 2016 
JST Material Number： W2441A  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Abstract/Point： Results are presented of plana...

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Thesaurus term： *testing device ,  polarized light ,  *antenna (electric) ,  reflector (electromagnetic) ,  power supply ,  alignment ,  geostationary orbit ,  reflecting mirror ,  near field (optics) ,  Europe ,  *engineering college ,  antenna measurement ,  scanning ,  frequency reuse ,  *satellite antennas

JST classification (1)： Antennas  (ND06000M)

Terms in the title (3)： 工科大学 ,  試験装置 ,  衛星アンテナ