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J-GLOBAL ID：201702215728517264   Reference number：17A0214247

Experimental demonstration of short and long term synaptic plasticity using OxRAM multi k-bit arrays for reliable detection in highly noisy input data

非常に雑音の多い入力データにおける信頼性の高い検出のためのOxRAM多重kビットアレイを用いた短期および長期シナプス可塑性の実験的実証【Powered by NICT】

Author (9)： Werner T. (CEA, LETI, Minatec Campus, Grenoble, France) ,  Vianello E. (CEA, LETI, Minatec Campus, Grenoble, France) ,  Bichler O. (CEA, LIST, Saclay, France) ,  Grossi A. (CEA, LETI, Minatec Campus, Grenoble, France) ,  Nowak E. (CEA, LETI, Minatec Campus, Grenoble, France) ,  Nodin J.-F. (CEA, LETI, Minatec Campus, Grenoble, France) ,  Yvert B. (INSERM, Clinatec, UA01, France) ,  DeSalvo B. (CEA, LETI, Minatec Campus, Grenoble, France) ,  Perniola L. (CEA, LETI, Minatec Campus, Grenoble, France)
Material： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conf Proc)
Volume： 2016  Issue： IEDM  Page： 16.6.1-16.6.4  Publication year： 2016 
JST Material Number： W2441A  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Abstract/Point： In this paper, we propose a ne...

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Thesaurus term： nerve impulse ,  nonvolatility ,  *reliability(property) ,  learning ,  *plasticity ,  signal detection ,  emulation ,  *noise(signal)
Semi thesaurus term： 背景雑音 ,  高精度 ,  パターン抽出 ,  超低消費電力 ,  読書 ,  *シナプス可塑性 ,  *入力データ , 【Automatic Indexing@JST】

JST classification (2)： Code theory  (ND02030R) ,  Amplification circuits  (NC05040U)

Terms in the title (9)： 雑音 ,  入力データ ,  多重 ,  ビットアレイ ,  短期 ,  長期 ,  シナプス可塑性 ,  実験 ,  実証