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J-GLOBAL ID：201702218160059859   Reference number：17A0297017

Analysis and improvement of a larger size TFT-LCD block mura

大規模薄膜トランジスタ液晶ディスプレイの一つのストライプ表示不均一性の解析と改善研究【JST・京大機械翻訳】

Author (7)： Liu Xiaowei (Fuzhou BOE Optoelectronics Technology Co.,Ltd.) ,  Tian Ming (Fuzhou BOE Optoelectronics Technology Co.,Ltd.) ,  Li Liangliang (Fuzhou BOE Optoelectronics Technology Co.,Ltd.) ,  Fu Yanqiang (Fuzhou BOE Optoelectronics Technology Co.,Ltd.) ,  Guo Huibin (福州京東方光電科技有限公司) ,  Liu Yao (Fuzhou BOE Optoelectronics Technology Co.,Ltd.) ,  Yuan Jianfeng (福州京東方光電科技有限公司)
Material： Yejing yu Xianshi  (Chinese Journal of Liquid Crystals and Displays)
Volume： 31  Issue： 11  Page： 1033-1037  Publication year： 2016 
JST Material Number： W1519A  ISSN： 1007-2780  CODEN： YYXIFY  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： China (CHN)  Language： CHINESE (ZH)

Abstract/Point： A new unknown block mura of la...

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Thesaurus term： scanning electron microscope ,  device structure ,  wiring ,  *liquid crystal display ,  *liquid crystal ,  probe ,  film thickness ,  *heterogeneity ,  fluctuation ,  product development ,  sputtering system ,  spectrophotometer ,  *thin film transistor ,  periodic variation
Semi thesaurus term： 周期性 , 【Automatic Indexing@JST】

Author keywords (4)： large size TFT-LCD ,  magnetron sputtering ,  flat target ,  Mura

JST classification (2)： Semiconductor thin films  (BK14040E) ,  Metallic thin films  (BK14030T)

Terms in the title (6)： 大規模 ,  薄膜トランジスタ ,  液晶ディスプレイ ,  表示不均一 ,  解析 ,  研究