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J-GLOBAL ID：201702224837882868   Reference number：17A0128804

Superconductivity and surface defects of Si(111)-(√7×√3)-In

Si(111)-(√7×√3)-Inの超伝導と表面欠陥

Author (8)： YOSHIZAWA Shunsuke (National Inst. Materials Sci.) ,  KIM Howon (Univ. Tokyo) ,  KAWAKAMI Takuto (National Inst. Materials Sci.) ,  NAGAI Yuki (Japan Atomic Energy Agency) ,  NAKAYAMA Tomonobu (National Inst. Materials Sci.) ,  HU Xiao (National Inst. Materials Sci.) ,  HASEGAWA Yukio (Univ. Tokyo) ,  UCHIHASHI Takashi (National Inst. Materials Sci.)
Material： 表面・界面スペクトロスコピー2015  (Surface Interface Spectroscopy, 2015)
Page： 71  Publication year： 2015 
JST Material Number： N20170002  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *crystal orientation ,  *indium ,  *superconductivity ,  *surface defect ,  carrier ,  microscopy ,  spectroscopy ,  vortex ,  steppe ,  persistent current ,  e-e interaction
Semi thesaurus term： *Si(111) ,  *indium ,  Microscopy, Scanning Tunneling ,  scanning tunneling spectroscopy ,  vortex ,  supercurrent ,  electron-electron interaction

JST classification (3)： Properties of superconductors in general  (BM04021A) ,  Surface structure of semiconductors  (BK15030A) ,  Lattice defects in semiconductors  (BK12040Q)

Terms in the title (3)： Si ,  伝導 ,  表面欠陥