Art

J-GLOBAL ID：201702242145849748   Reference number：17A0067751

The Measurement Error Analysis of Load Pull System of High Frequency and the Novel Measure Method

LOAD PULLシステムの高周波試験誤差解析と新しい試験計画【JST・京大機械翻訳】

Author (6)： Wang Zhensheng (Nanjing Electronic Devices Institute) ,  Zheng Weibin (Nanjing Electronic Devices Institute) ,  Wang Weibo (Nanjing Electronic Devices Institute) ,  Tao Hongqi (Nanjing Electronic Devices Institute) ,  Qian Feng (Nanjing Electronic Devices Institute) ,  Xu Bo (Nanjing Electronic Devices Institute)
Material： Guti Dianzixue Yanjiu yu Jinzhan  (Research & Progress of Solid State Electronics)
Volume： 36  Issue： 4  Page： 312-317  Publication year： 2016 
JST Material Number： C2084A  ISSN： 1000-3819  CODEN： GDYJE2  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： China (CHN)  Language： CHINESE (ZH)

Abstract/Point： Load pull systems are complex ...

Register(free) or Log In to access     To see more with JDream III (charged).   {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=17A0067751&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=C2084A") }}

Thesaurus term： *error analysis ,  microwave ,  *HF ,  frequency band

Author keywords (3)： load pull ,  high frequency load pull on wafer ,  millimeter microwave load pull

JST classification (4)： Antennas  (ND06000M) ,  Mobile communication  (ND08030H) ,  Data communication  (ND11040A) ,  Radio communication in general  (ND08010L)

Terms in the title (4)： 高周波 ,  試験 ,  誤差解析 ,  試験計画