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J-GLOBAL ID：201702274498603785   Reference number：17A0512031

X-Ray Fluorescence Intensity Using Polarization

偏光光学系における蛍光X線理論強度

Author (3)： TANAKA RYOHEI (京大 大学院工学研究科) ,  AKIBA SHU (京大 大学院工学研究科) ,  KAWAI JUN (京大 大学院工学研究科)
Material： X線分析の進歩  (X線工業分析)
Volume： 48  Page： 352-356  Publication year： Mar. 31, 2017 
JST Material Number： Z0547B  ISSN： 0911-7806  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *linearly polarized light ,  *optical system ,  *polarized light ,  *characteristic X-ray ,  angular momentum ,  light ,  *X-ray fluorescence analysis
Semi thesaurus term： incident light ,  polarization fluorescence

JST classification (1)： Other phsical analysis  (CC03014E)

Reference (13)：

• R. W. Ryon: X-Rray Anal., 46, 352 (2003).
• R. W. Ryon, J. D. Zahrt: Polarized beam X-ray fluorescence, Chapter 10 in:′′Handbook of X-ray Spectrometry′′, R. Van Grieken, A. Markowicz, ed., (1992), (Marcel Dekker, Inc).
• J. C. Young, R. A. Vane, J. P. Lenehan: Background reduction by polarization in energy dispersive x-ray spectrometry, in: ′′Western Regional Meeting of the American′′, (1973),(Chemical Society, San Diego, CA). (文献[1]より )
• T. G. Dzubey, B. V. Jarrett, J. M. Jaklevic: Nucl. Instrum. Methods, 115, 297 (1974).
• K. P. Champion, R. N. Whittem: Nature, 199, 1082 (1963).

Terms in the title (4)： 偏光 ,  光学系 ,  蛍光X線 ,  理論