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J-GLOBAL ID：201702277259281171   Reference number：17A0500884

先端計測 研究を支える機器開発 日本化学会編 5 スピン偏極低エネルギー電子顕微鏡の開発

Author (2)： KOSHIKAWA TAKANORI (大阪電通大 エレクトロニクス基礎研) ,  TAKEDA YOSHIKAZU (科学技術交流財団 あいちシンクロトロン光セ)
Material： CSJ Current Review  (CSJカレントレビュー)
Issue： 23  Page： 74-81,1(2)  Publication year： Aug. 25, 2016 
JST Material Number： F1106A  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *electron microscope ,  *magnetic domain structure ,  *electron microscopy ,  electron gun ,  *photoelectric cathode ,  *luminance ,  image processing ,  imaging ,  measurement ,  strained layer superlattice ,  artificial superlattice ,  gallium arsenide ,  phosphide ,  arsenide ,  gallium compound ,  compound semiconductor ,  semiconductor thin film ,  laser irradiation ,  *lifetime ,  cobalt base alloy ,  nickel containing alloy ,  magnetic thin film ,  substrate(plate) ,  tungsten ,  gallium phosphide ,  extreme high vacuum ,  irradiation
Semi thesaurus term： SPLEEM ,  *スピン偏極低エネルギー電子顕微鏡 ,  高スピン偏極フォトカソード ,  *high brightness ,  real-time imaging ,  real time measurement ,  *long life ,  動的観察 ,  背面照射

JST classification (2)： Electron and ion microscopes  (BD02050B) ,  Measuring techniques and equipments of magnetic materials  (BM06030I)

Terms in the title (6)： 計測 ,  研究 ,  開発 ,  日本 ,  学会 ,  スピン偏極低エネルギー電子顕微鏡