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J-GLOBAL ID：201702284987448589   Reference number：17A0512035

Development of Soft X-Ray Quick XAFS System at Ritsumeikan University SR Center

立命館大学SRセンター軟X線XAFSビームラインへのQuick XAFSシステムの導入

Author (7)： YOSHIMURA MASASHI (立命館大 SRセ) ,  NAKANISHI KOJI (立命館大 SRセ) ,  MITSUHARA KEI (立命館大 理工) ,  KIKUZAKI SHOTA (立命館大 生命科学) ,  KOJIMA KAZUO (立命館大 生命科学) ,  ORIKASA YUKI (立命館大 生命科学) ,  OTA TOSHIAKI (立命館大 SRセ)
Material： X線分析の進歩  (X線工業分析)
Volume： 48  Page： 386-393  Publication year： Mar. 31, 2017 
JST Material Number： Z0547B  ISSN： 0911-7806  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *soft X-ray ,  *XAFS ,  measurement ,  fluorescence ,  yield ,  lithium ion battery ,  *in situ observation ,  *beam line
Semi thesaurus term： time resolved method

JST classification (1)： Other phsical analysis  (CC03014E)

Reference (8)：

• R. Frahm: Nucl. Instrum. Methods A, 270, 578 (1988).
• 稲田康宏,丹羽尉博,野村昌治:放射光,20,242(2007).
• K. Nakanishi, S. Yagi, T. Ohta: AIP Conference Proceedings, 1234, 931 (2010).
• K. Mitsuhara, T. Yaji, T.Ohta: MEMOIRAS OF THE SR CENTER RITSUMEIKAN UNIVERSITY, 17, 69 (2015).
• K. Nakanishi, T. Ohta:′′Advanced Topics in Measurements′′, ed. Md. Zahurul Haq, 43 (2010), (InTECH).

Terms in the title (6)： 立命館大学 ,  Sr ,  センター ,  軟X線 ,  XAFS ,  ビームライン