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Research Resourceの詳細情報

更新日 2004年01月07日

Research ResourceJ-GLOBAL ID:201110002801161778研究資源コード:5000002226

走査型電子顕微鏡、 真空熱処理炉、 薄膜用X線回折装置、 シーケンシャル型発光分光分析装置、 摩擦摩耗試験機、 マイクロスコープ、 電気化学測定装置、 ゼータ電位測定機、 流動電位測定装置、 金属顕微鏡、 マイクロ硬度計、 真空脱脂洗浄機、 サブゼロ装置、 電気炉、 焼戻し炉、 プラズマ浸炭装置、 アーク溶接機、 万能材料試験機、 精密万能材料試験機、 シャルピー衝撃試験機、 三次元測定機、 万能投影機、 万能測定顕微鏡、 表面粗さ計、 表面形状解析装置、 精密ワイヤーカット放電加工機、 フライス盤、 旋盤、 ボール盤、 平面研削盤、 形削盤、 万能工具研削盤、 金切鋸盤、 砥石切断機、 超精密旋盤、

資源分類:実験機器、施設等
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J-GLOBAL: Linking, Expanding and Sparking

About J-GLOBAL

Linking

J-GLOBAL links information that represents the key to research and development. For example, linking articles and patents with people (authors and inventors) enables the extraction of a sequence of information.
It’s useful for making new discoveries and uncovering new information.

Expanding

The system enables searches of similar kinds of content through linkage with external sites.
It helps you to obtain knowledge from dissimilar fields and discover concepts that cross the boundaries of specialisms.

Sparking

Through repeated linkage and expansioniteration, J-GLOBAL provides unexpected hints for problem-solving and the illumination of new ideas.