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J-GLOBAL ID：201301096353571760   Update date: Mar. 31, 2024

ARAI Masayuki

アライ マサユキ | ARAI Masayuki
Affiliation and department：
Nihon University College of Industrial Technology Department of Mathematical Information Engineering

About Nihon University College of Industrial Technology Department of Mathematical Information Engineering


Job title： Professor
Research field  (4)： Social systems engineering ,  Communication and network engineering ,  Computer systems ,  Safety engineering
Research keywords  (3)： VLSI design and test ,  dependable network systems ,  dependable computing
Research theme for competitive and other funds  (7)：
  • 2019 - 2022 マルチモデルサンプリングに基づくSoCの欠陥レベル見積り及び削減法
  • 2015 - 2018 高電磁環境下での周期的多重過渡故障のオンラインマスク法
  • 2012 - 2015 高電磁環境下の新しい過渡故障モデルに対する耐故障順序回路の検討
  • 2011 - 2014 クリティカルエリアサンプリングによるSoCの欠陥レベル削減に関する研究
  • 2011 - 2014 レイアウト情報を用いたSOC市場不良率予測の高精度化手法に関する研究
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Papers (118)：
  • Natsuki Ota, Toshinori Hosokawa, Koji Yamazaki, Yukari Yamauchi, Masayuki Arai. An Estimation Method of Defect Types Using Artificial Neural Networks and Fault Detection Information. IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT 2023). 2023
  • Yuki Yamanaka, Masayuki Arai, Yoshikazu Nagamura, Satoshi Fukumoto. Toward Improvement and Evaluation of Reconstruction Capability of CapsNet-Based Wafer Map Defect Pattern Classifier. THE 7TH IEEE INTERNATIONAL TEST CONFERENCE IN ASIA (ITC-ASIA) 2023. 2023
  • Takashi Toyama, Mamoru Ohara, Masayuki Arai, Satoshi Fukumoto. Reliability Evaluation of Cloud-Based Railway Signalling Systems,Using COTS-Based Asynchronous Processing. The 10th Asia-Pacific International Symposium on Advanced Reliability and Maintenance. 2022
  • Itsuki Fujita, Yoshikazu Nagamura, Masayuki Arai, Satoshi Fukumoto. Note on CapsNet-Based Wafer Map Defect Pattern Classification. Proceedings of IEEE Asian Test Symposium. 2021. 採録決定. 37-42
  • Natsuki Ohta, Toshinori Hosokawa, Koji Yamazaki, Yukari Yamauchi and Masayuki Arai. An Estimation Method of Defect Types for Suspected Logical Faulty Lines Using Artificial Neural Networks and Fault Detection Information of Universal Logical Fault Model. Proceedings of IEEE Workshop on RTL and High Level Test (WRTLT 2021). 2021. 23-28
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Patents (7)：
  • テストフロー提示コンピュータプログラム、テストフロー提示コンピュータシステム
  • 半導体集積回路およびテストパターン発生方法
  • テスト構成の半導体集積回路
  • テスト構成の半導体集積回路およびそのテスト方法
  • 半導体装置の検査方法
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Lectures and oral presentations  (71)：
  • 確率モデルによるCOTSベースクラウド型鉄道信号システムの信頼性・安全性評価
    (組込み技術とネットワークに関するワークショップ (ETNET2024) 2024)
  • 擬似ブール最適化を用いた2サイクルゲート網羅故障のための低消費電力指向複数目標故障テスト生成法
    (電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会 2024)
  • CapsNetによるウェハマップ欠陥パターン分類精度の改善
    (電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会 2024)
  • ブートストラップ法を用いたウェハマップ欠陥パターン分類におけるラベリングの評価
    (電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会(Winter Workshop on Safety) 2023)
  • 組込み自己テストにおける両立可能故障集合を用いた複数ランダムパターンレジスタント故障のシード生成法
    (電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会(Winter Workshop on Safety) 2023)
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Education (4)：
  • 1999 - 2001 Tokyo Metropolitan University Graduate School of Engineering Department of Electrical Engineering
  • 1999 - 2001 Tokyo Metropolitan University Graduate School of Engineering Department of Electrical Engineering
  • 1995 - 1999 Tokyo Metropolitan University Faculty of Engineering Department of Electronics and Information Engineering
  • 1995 - 1999 Tokyo Metropolitan University Faculty of Engineering Department of Electronics and Information Engineering
Work history (7)：
  • 2021/04 - 現在 日本大学 生産工学部 数理情報工学科 教授
  • 2016/04 - 2021/03 日本大学 生産工学部 数理情報工学科 准教授
  • 2013/04 - 2016/03 日本大学 生産工学部 数理情報工学科 助教
  • 2005/04 - 2013/03 Tokyo Metropolitan University Faculty of System Design 助教
  • 2001/04/01 - 2005/03/31 Tokyo Metropolitan University Graduate School of Engineering
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Committee career (6)：
  • 2019/06 - 現在 30th IEEE Asian Test Symposium (ATS 2021) Finance Chair
  • 2019/01 - 現在 21st IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT 2020) Program Co-Chair
  • 2018/12 - 現在 24th IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC 2019) Finance Chair
  • 2018/06 - 現在 IEEE 3rd International Conference in Asia (ITC-Asia 2019) Finance Chair
  • 2018/04 - 現在 電子情報通信学会 ディペンダブルコンピューティング研究専門委員会幹事
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Awards (10)：
  • 2022/11 - The 22nd IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT 2021 ) Best Paper Award
  • 2022/11 - 電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会 2021年度最優秀講演賞
  • 2022/11 - IEEE Reliability Society Japan Joint Chapter,Best Paper Award Layout Feature Extraction Using CNN Classification in Root Cause Analysis of LSI Defects
  • 2021/11 - 電子情報通信学会ディペンダブルコンピューティング研究会 2020年度最優秀講演賞
  • 2021/03 - IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing Best Paper Award - Honorable Mention
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Association Membership(s) (2)：
電子情報通信学会 ,  IEEE
※ Researcher’s information displayed in J-GLOBAL is based on the information registered in researchmap. For details, see here.

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