Art

J-GLOBAL ID：201702287047716645   Reference number：17A0044025

Streak-camera RHEED for the surface structure dynamics

表面構造動力学のためのストリークカメラRHEED

Author (5)： MUKOJIMA K. (Tohoku Univ., JPN) ,  KANZAKI S. (Tohoku Univ., JPN) ,  KAWANISHI K. (Tohoku Univ., JPN) ,  SATO K. (Tohoku Univ., JPN) ,  ABUKAWA T. (Tohoku Univ., JPN)
Material： 9th International Symposium on Ultrafast Surface Dynamics, 2015
Page： 34  Publication year： 2015 
JST Material Number： N20162287  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *surface structure ,  *dynamics ,  *high speed camera ,  *RHEED ,  time resolution ,  Nd-YAG laser ,  *pulsed laser irradiation ,  *silicon ,  semiconductor ,  picosecond ,  structural phase transition ,  real time processing
Semi thesaurus term： *streak camera

JST classification (2)： Electron diffraction methods  (BK01030T) ,  Surface structure of semiconductors  (BK15030A)

Terms in the title (3)： 構造動力学 ,  ストリークカメラ ,  RHEED