研究者
J-GLOBAL ID:200901000470752597
更新日: 2024年02月01日
平林 康男
ヒラバヤシ ヤスオ | Hirabayashi Yasuo
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所属機関・部署:
地方独立行政法人神奈川県立産業技術総合研究所 事業化支援部 兼 電子技術部
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職名:
統括技術コーディネーター
ホームページURL (2件):
http://www.kistec.jp/
,
http://www.kistec.jp
研究分野 (5件):
電気電子材料工学
, 結晶工学
, 応用物性
, ナノマイクロシステム
, ナノ材料科学
研究キーワード (5件):
MEMS
, マイクロマシン
, 薄膜工学
, 電子工学
, Electronic engineering and thin film engineeringMEMS
競争的資金等の研究課題 (4件):
2008 - 2010 半導体表面に形成したナノ周期構造による高効率紫外線光センサ
2008 - 2010 半絶縁性シリコン・カーバイド基板を用いた鉄シリサイド半導体の電気特性評価
2008 - 2009 半導体表面に形成したナノ周期構造による高効率紫外線光センサ
マイクロエレクトロオプトメカトロニクスの作製技術、 ハードエレクトロニクス材料の作製技術
論文 (47件):
Kengo Hamada, Tsuyoshi Ochiai, Daisuke Aoki, Yasuhisa Akutsu, Yasuo Hirabayashi. Decomposition of Gaseous Styrene Using Photocatalyst and Ozone Treatment. Catalysts. 2022. 12. 3
Kensuke Akiyama, Teiko Kadowaki, Yasuo Hirabayashi, Hiroshi Funakubo. Effect of microstructures on electrical conduction properties of β-FeSi
2
epitaxial films. Journal of Crystal Growth. 2017. 468. 744-748
Manabu Yasui, Satoru Kaneko, Masaharu Takahashi, Takashi Sano, Yasuo Hirabayashi, Takeshi Ozawa, Ryutaro Maeda. Micro Imprinting for Al Alloy Using Ni-W Electroformed Mold. Int. J. Autom. Technol. 2015. 9. 6. 674-677
Jun Yamasaki, Shin Inamoto, Yuki Nomura, Hirokazu Tamaki, Atsushi Ishida, Kensuke Akiyama, Yasuo Hirabayashi, Nobuo Tanaka. Atomistic Structure Analysis of 3C-SiC/Si(001) Interface and Stacking Faults by Aberration-Corrected Transmission Electron Microscopy. 2014. 45. 49. 494002
Manabu Yasui, Satoru Kaneko, Masaharu Takahashi, Hiroaki Ito, Masahiro Arai, Yasuo Hirabayashi, Takeshi Ozawa, Ryutaro Maeda. Property Variation of Ni-W Electroformed Mold for Micro-Press Molding. JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. 2013. 52. 11
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MISC (90件):
山崎順, 石田篤志, 秋山賢輔, 平林康男. Si(001)上の3C-SiCエピ膜形成および積層欠陥生成過程の断面TEM解析. 応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM). 2016. 63rd
山崎順, 石田篤志, 秋山賢輔, 平林康男. 透過電子顕微鏡を用いたSi(001)上の3C-SiC膜形成及び積層欠陥生成過程の研究. 日本物理学会講演概要集(CD-ROM). 2015. 70. 2. 2436-2436
石田篤志, 山崎順, 稲元伸, 野村優貴, 秋山賢輔, 平林康男, 田中信夫. Si(001)基板上3C-SiCエピタキシャル薄膜における積層欠陥発生プロセスの収差補正TEM解析. 日本物理学会講演概要集. 2014. 69. 1. 933-933
山崎順, 稲元伸, 野村優貴, 石田篤志, 秋山賢輔, 平林康男, 田中信夫. 3C-SiC/Si(001)界面における積層欠陥の収差補正TEM解析. 応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM). 2013. 60th
石田篤志, 山崎順, 稲元伸, 野村優貴, 秋山賢輔, 平林康男, 田中信夫. 収差補正HRTEMを用いた3C-SiC/Si(001)界面における積層欠陥の解析. 日本物理学会講演概要集. 2013. 68. 2. 861-861
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書籍 (1件):
3C-SiC温度・光センサのための薄膜作製に関する研究
平林康男 2006
Works (1件):
半導体微細加工技術・マイクロマシニング技術を用いたセンサの開発等 マイクロミラーの試作
1993 - 2002
学位 (2件):
理学修士 (北海道大学)
博士(工学) (埼玉大学)
経歴 (4件):
2017/04 - 現在 地方独立行政法人神奈川県立産業技術総合研究所
2006/04 - 2017/03 神奈川県産業技術センター
1995/04 - 2006/03 神奈川県産業技術総合研究所 電子工学部電子デバイスチーム
1986/04 - 1995/03 神奈川県工業技術センター 応用物理部電子科
委員歴 (1件):
2006 - 2008 電気学会神奈川支所委員
所属学会 (4件):
電気学会
, 応用物理学会
, The Institute of Electrical Engineers of Japan
, The Japan Society of Applied Physics
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