研究者
J-GLOBAL ID:200901000891673092
更新日: 2022年12月27日
清野 豊
セイノ ユタカ | Seino Yutaka
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所属機関・部署:
国立研究開発法人産業技術総合研究所 工学測標準研究部門 材料強度標準研究室
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ホームページURL (1件):
http://www.aist.go.jp/RESEARCHERDB/cgi-bin/worker_detail.cgi?call=namae&rw_id=Y24554416
研究分野 (1件):
金属材料物性
MISC (10件):
Y Shioya, H Shimoda, K Maeda, T Ohdaira, R Suzuki, Y Seino. Low-k SiOCH film deposited by plasma-enhanced chemical vapor deposition using hexamethyldisiloxane and water vapor. JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS BRIEF COMMUNICATIONS & REVIEW PAPERS. 2005. 44. 6A. 3879-3884
S Takada, N Hata, Y Seino, N Fujii, T Kikkawa. Skeletal silica characterization in porous-silica low-dielectric-constant films by infrared spectroscopic ellipsometry. JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. 2005. 97. 11. 113504-113508
Theoretical Investigation of the Dielectric Constant and Elastic Modulus of Three-Dimensional Isotropic Porous Silica Films with Cubic and Disordered Pore Arrangements. JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. 2005. 44. 8. 5982-5986
S Takada, N Hata, Y Seino, K Yamada, Y Oku, T Kikkawa. Mechanical property and network structure of porous silica films. JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS. 2004. 43. 5A. 2453-2456
Ultra-low-k Mesoporous Silica Films Fromed by Using Nonionic Surfactant Templates. JOURNAL OF THE ELECTROCHEMICAL SOCIETY. 2004. 151. 10. F248-F251
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学位 (1件):
理学博士
所属学会 (5件):
USA
, The Materials Research Society
, The Society of Materials Science, Japan
, Material Testing Research Association of Japan
, The Japan Society for Precision Engineering
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