研究者
J-GLOBAL ID:200901006291837057   更新日: 2024年01月30日

中前 幸治

ナカマエ コウジ | Nakamae Kouji
所属機関・部署:
職名: 教授
研究分野 (4件): 電子デバイス、電子機器 ,  医用システム ,  知能ロボティクス ,  知覚情報処理
研究キーワード (6件): 検査・診断システム ,  画像情報処理 ,  集積回路 ,  Detection and Diagnosis system ,  Image Information Processing ,  Integrated Circuit
競争的資金等の研究課題 (18件):
  • 2012 - 2015 異常眼球運動解析による中枢性疾患と末梢性疾患の鑑別
  • 2010 - 2011 良性発作性頭位めまい症の眼振三次元解析からの予後推測
  • 2003 - 集団検診用X銭画像検査・診断システムに関する研究
  • 2000 - 2001 VLSIチップ観測画像からの逆設計によるその場故障診断に関する基礎的研究
  • 1998 - 2000 多層構造VLSIのテスティング容易化設計手法の基礎的研究
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論文 (46件):
  • Takuma Okada, Yoshihiro Midoh, Koji Nakamae, Noriyuki Miura. Accurate measurement of charge density in nanoscale particles using an aperture optimization of Fourier based phase reconstruction. Proceedings of the Electronic Imaging 2022. 2022. 34. 14. 248-1
  • Takehiro Tamaoka, Yoshihiro Midoh, Kazuo Yamamoto, Shodai Aritomi, Toshiaki Tanigaki, Masao Nakamura, Koji Nakamae, Masashi Kawasaki, Yasukazu Murakami. Denoising electron holograms using the wavelet hidden Markov model for phase retrieval-Applications to the phase-shifting method. AIP Advances. 2021. 11. 2. 025135-025135
  • Endo, K., Chinone, N., Nakamura, T., Matsumoto, T., Nakamae, K. Single-pulse observation of photoemission during avalanche breakdown in insulated gate bipolar transistor. Microelectronics Reliability. 2020
  • Endo, K., Nakamae, K. Temporally- And Spatially-Resolved Observations of Current Filament Dynamics in Insulated Gate Bipolar Transistor Chip during Avalanche Breakdown. IEEE Transactions on Device and Materials Reliability. 2019. 19. 4
  • Youngji Cho, Kodai Niitsu, Yoshihiro Midoh, Koji Nakamae, Daisuke Shindo, Jun-Mo Yang, Yasukazu Murakami. Suppressing Geometric Phase Shift Owing to Antiphase Boundaries in Dark-Field Electron Holography. MATERIALS TRANSACTIONS. 2019. 60. 5. 698-703
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MISC (302件):
  • 井野 昂宜, 三浦 克介, 中前 幸治. A-7-14 故障解析装置を用いたAES暗号化回路への攻撃手法と耐攻撃設計の評価(A-7.情報セキュリティ,一般セッション). 電子情報通信学会基礎・境界ソサイエティ/NOLTAソサイエティ大会講演論文集. 2016. 2016. 100-100
  • 桃田 快, 遠藤 幸一, 御堂 義博, 三浦 克介, 中前 幸治. マルコフ連鎖モデルによる半導体素子劣化・寿命予測 (信頼性). 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報. 2014. 114. 314. 1-5
  • 御堂 義博, 三浦 克介, 豊田 康隆, 中前 幸治. A-4-3 自己組織化リソグラフィにおける微細ラインパターン画像処理(I)(A-4.信号処理,一般セッション). 電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集. 2014. 2014. 64-64
  • 御堂 義博, 中前 幸治. 3次元電子線トモグラフィー法のための画像処理技術. 大阪大学超高圧電子顕微鏡センター年報. 2013. 42. 20-24
  • 蝶野 尋紀, 三浦 克介, 中前 幸治. B-19-28 人の健康モニタリングのためのリアルタイム圧縮センシング(B-19.ユビキタス・センサネットワーク,一般セッション). 電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集. 2012. 2012. 2. 396-396
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特許 (4件):
  • デフォルメ地図の自動生成装置、方法、及びプログラム、並びにナビゲーション機器とサーバ
  • 強二次電子引き出し電界を持つ二次電子分光装置
  • 電子プローブ装置の高精度位置決め方法及び装置
  • 2次電子分光装置
書籍 (5件):
  • LSIテスティングハンドブック
    オーム社 2008
  • LSI testing handbook
    Ohmsha 2008
  • 画像処理の基礎
    昭晃堂 2002
  • 計算機システム-ハードウェアの基礎-
    昭晃堂 2000
  • Computer System : Basics of Hardware
    2000
Works (6件):
  • 超LSI故障個所解析装置ソフトウェアの開発
    2011 -
  • 超LSI故障個所解析装置ソフトウェアの開発
    2010 -
  • 超LSI故障個所解析装置
    2009 -
  • 超LSI故障個所解析装置ソフトウェアの開発
    2009 -
  • 超LSI故障個所解析装置
    2009 -
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学位 (2件):
  • 工学博士 (大阪大学)
  • 工学修士 (大阪大学)
委員歴 (1件):
  • 2010 - 日本信頼性学会 評議員
所属学会 (10件):
日本信頼性学会 ,  THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING(SPIE) ,  IEEE(Institute of Electrical and Electronics Engineering) ,  応用物理学会 ,  電子情報通信学会 ,  The International Society for Optical Engineering ,  The Institute of Electrical and Electronics Engineers ,  The Japan Society of Applied Physics ,  Information and Communiction Engineers ,  The Institute of Electronics
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