研究者
J-GLOBAL ID：200901008264255154   更新日: 2020年04月30日

謝 天

シャ テン | Xie Tian
所属機関・部署：
広島大学 放射光科学研究センター

広島大学 放射光科学研究センター について


職名： 非常勤研究員
研究キーワード (8件)： 電子構造 ,  超薄膜 ,  ナノクラスター ,  表面 ,  Electronic Structures ,  Ultrathin Films ,  Nano-Clusters ,  Surfaces
MISC (3件)：
学歴 (4件)：
  • - 2004 広島大学 理学研究科 物理学
  • - 2004 広島大学
  • - 1998 蘭州大学 物理科学与技術 物理学
  • - 1998 Lonzhou University Faculty of physical science and Technology physics
学位 (1件)：
  • 博士(理学) (広島大学)
受賞 (2件)：
  • 2002 - The class B Award of IUVATA-Elsevier
  • 2002 - The class B Award of IUVSTA-Elsevier
所属学会 (2件)：
日本放射光学会 ,  Japanese Society for Synchrotron Radiation Research
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