研究者
J-GLOBAL ID:200901009174245369
更新日: 2022年06月28日
菅原 健太郎
スガワラ ケンタロウ | Sugawara Kentaro
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所属機関・部署:
国立研究開発法人産業技術総合研究所 工学計測標準研究部門 ナノスケール標準研究グループ
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ホームページURL (1件):
http://www.aist.go.jp/RESEARCHERDB/cgi-bin/worker_detail.cgi?call=namae&rw_id=K84079983
論文 (10件):
Ichiko Misumi, Kentaro Sugawara, Keiji Takahata, Kayori Takahashi, Kensei Ehara. Size measurements of standard nanoparticles using metrological atomic force microscope and evaluation of their uncertainties. Precision Engineering. 2018. 51. 691-701
Ichiko Misumi, Kazuya Naoi, Kentaro Sugawara, Satoshi Gonda. Profile surface roughness measurement using metrological atomic force microscope and uncertainty evaluation. MEASUREMENT. 2015. 73. 295-303
Kayori Takahashi, Keiji Takahata, Ichiko Misumi, Kentaro Sugawara, Satoshi Gonda, Kensei Ehara. Recent Activity of International Comparison for Nanoparticle Size Measurement. INTERNATIONAL CONFERENCE ON OPTICAL PARTICLE CHARACTERIZATION (OPC 2014). 2014. 9232
Kentaro Sugawara, Ichiko Misumi, Satoshi Gonda. Pixel length calibration using a pattern matching method for secondary-electron images. INTERNATIONAL CONFERENCE ON OPTICS IN PRECISION ENGINEERING AND NANOTECHNOLOGY (ICOPEN2013). 2013. 8769
Ichiko Misumi, Keiji Takahata, Kentaro Sugawara, Satoshi Gonda, Kensei Ehara. Extension of the gravity center method for diameter calibration of polystyrene standard particles with metrological AFM. SCANNING MICROSCOPIES 2012: ADVANCED MICROSCOPY TECHNOLOGIES FOR DEFENSE, HOMELAND SECURITY, FORENSIC, LIFE, ENVIRONMENTAL, AND INDUSTRIAL SCIENCES. 2012. 8378
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MISC (2件):
I. Misumi, S. Gonda, O. Sato, K. Sugawara, K. Yoshizaki, T. Kurosawa, T. Takatsuji. Nanometric lateral scale development using an atomic force microscope with directly traceable laser interferometers. MEASUREMENT SCIENCE AND TECHNOLOGY. 2006. 17. 7. 2041-2047
H Satoh, K Sugawara, K Tanaka. Nanoscale phase changes in crystalline Ge2Sb2Te5 films using scanning probe microscopes. JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. 2006. 99. 2. 024306-1-024306-7
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