安達正明

アダチマサアキ | Adachi Masaaki

所属機関・部署：
職名：教授

研究分野 (4件)：機械力学、メカトロニクス , ロボティクス、知能機械システム , 応用物理一般 , 光工学、光量子科学

研究キーワード (6件)：光学計測 , 応用光学 , スペツクル , Optical metrology , Applied Optics , Speckle

競争的資金等の研究課題 (13件)：

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論文 (46件)：

MISC (45件)：

堀田仁志, 安達正明. ラインカメラと共焦点原理を用いた三次元形状計測法(構造部材や加工プロセスの信頼性を支える計測・評価技術). 機械材料・材料加工技術講演会講演論文集. 2009. 2009. 17. "111-1"-"111-2"
有川龍郎, 安達正明. レーザとカラーカメラを用いた2次元変形測定法(構造部材や加工プロセスの信頼性を支える計測・評価技術). 機械材料・材料加工技術講演会講演論文集. 2009. 2009. 17. "112-1"-"112-2"
河村昌範, 安達正明. 振動下での高精度形状測定におけるFPGA応用技術(構造部材や加工プロセスの信頼性を支える計測・評価技術). 機械材料・材料加工技術講演会講演論文集. 2009. 2009. 17. "113-1"-"113-2"
三宅英介, 安達正明. ラインカメラを用いたnm精度での縦方向変位とμm精度での横方向変位の同時測定(OS10-2 変位・形状の計測,オーガナイズドセッション:10 部材の健全性を支える計測・評価技術). 講演論文集. 2009. 2009. 46. 377-378
安達正明, 藤本健太, 平野勇輝. 走査型白色干渉顕微鏡に内蔵可能な光路差変化量のリアルタイム測定法. 精密工学会誌. 2008. 74. 11. 1215-1219

特許 (5件)：

振動環境下での波長走査を用いた形状計測方法及び装置
光干渉を用いた形状測定方法および形状測定装置
位相シフト法による計測方法と装置
透明層の厚さ測定方法及び測定装置
Profile measurement method and measurement apparatus using interference of light

Works (8件)：

学歴 (4件)：

学位 (1件)：

受賞 (2件)：

所属学会 (3件)：

日本光学会 , 精密工学会 , The International Society for Optical Engineering

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安達 正明