月本功

ツキモトイサオ | Tsukimoto Isao

所属機関・部署：
職名：准教授

研究分野 (1件)：電子デバイス、電子機器

研究キーワード (4件)：電源電流 , 回路テスト , 故障検出 , 電子回路

競争的資金等の研究課題 (2件)：

論文 (8件)：

橋爪正樹, 伊喜利勇貴, 小西朝陽, 四柳浩之, LU Shyue-Kung. ものづくりイノベーションにおけるプロセス評価と検査バウンダリスキャンテスト機構を用いたはんだ接合部の電気検査法とその組込型検査回路. エレクトロニクス実装学会誌. 2016. 19. 3. 161-165
小野安季良, 一宮正博, 四柳浩之, 高木正夫, 橋爪正樹. CMOSゲート回路を断線センサとして用いた部品接合不良検出法. エレクトロニクス実装学会誌. 2009. 12. 2. 137-143
高木正夫, 橋爪正樹, 一宮正博, 四柳浩之. 交流電界印加時の電流テストによるCMOS LSIのリード浮き検出のための印加交流電圧. エレクトロニクス実装学会誌. 2007. 10. 3. 219-228
ばらつきを有するICで構成したTTL回路の電源電流による統計的断線故障検出法. エレクトロニクス実装学会誌、Vol.8 No.3. 2005. 8. 3. 199-207
Masaki Hashizume, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi, Takeomi Tamesada. Electric field for detecting open leads in CMOS logic circuits by supply current testing. Proceedings - IEEE International Symposium on Circuits and Systems. 2005. 2995-2998

MISC (51件)：

境直人, 月本功. Fault judgement based on variance in the test method by measuring quiescent supply current for detecting open faults. Abstract book of Malaysia-Japan International Conference on Nanoscience, Nanotechnology and Nanoengineering 2021. 2021. 19-19
安藤健太, 月本功. 電流テスト法における電磁誘導による断線故障検出の基礎的検討. 令和2年度電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集. 2020. 9-1-9-1
月本功, 安藤健太, 須崎晴登. LSI実装時半断線故障に対する電流テストによる検出可能性の評価. 独立行政法人国立高等専門学校機構香川高等専門学校研究紀要第10号. 2019. 107-111
須崎晴登, 月本功. Effectiveness of supply current test method for resistive open fault by miniaturization of manufacturing process. Abstract book of The 14th Eco-Energy and Materials Science and Engineering Symposium 2018. 2018. 75-75
須崎晴登, 月本功, 四柳浩之, 橋爪正樹. 電流テスト法によるLSI実装時半断線故障の検出可能性評価. 平成29年度電気関係学会四国支部連合大会講演論文集. 2017. 79-79

特許 (2件)：

学歴 (3件)：

学位 (1件)：

経歴 (2件)：

所属学会 (2件)：

エレクトロニクス実装学会 , 電気情報通信学会

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月本 功